碳化矽MOSFET優勢解析
發布時間:2025-04-30
陕西半导体先导技术中心日前已完成碳化硅MOSFET器件量产平台的打造。MOSFET器件系列产品已完成研发并通过一系列产品性能和可靠性测试,部分型号已实现量产。
与传统的硅基功率器件相比,碳化硅材料拥有更高的耐压和耐热、更快的开关频率,更低的开关损耗。优异的高和气压服特征使得碳化硅MOSFET在大功率应用中表现杰出,特别是压服应用中,在雷同的功率下,碳化硅MOSFET自身器件损耗小,极大减小了器件的散热需求,使系统朝着小型化,轻量化,集成化的方向发展。可广泛适用于光伏逆变器、开关电源、压服DC/DC、新能源充电和电机驱动等应用土地,有助于减小系统体积,降低系统功耗,提升电源系统功率密度。
SA1M12000065碳化硅MOSFET先导中凶把实现量产,要紧参数如下,目前已有多家客户处于样品测试时期:
众所周知,Si材料中,越是高耐压器件其单位面积的导通电阻就越大,因此600V以上的电压中要紧采用IGBT。IGBT通过电导率调制,向漂移层内注入作为少数载流子的空穴,因此导通电阻比MOSFET还要小,但是同时由于少数载流子的积聚,在关断时会产生尾电流,从而造成极大的开关损耗。而SiC器件漂移层的阻抗比Si器件低,不需要进行电导率调制就能够以高频器件结构的MOSFET实现高耐压和低阻抗。同时MOSFET原理上不产生尾电流,因此用SiC MOSFET替代IGBT时,能够明显地减少开关损耗,同时实现散热部件的小型化。另外,SiC MOSFET能够在IGBT不能工作的高频条件下驱动,从而也可以实现消沉器件的小型化。
碳化硅MOSFET芯片不仅能够以小封装实现低导通电阻,同时能够使门极电荷量、结电容也变小。因此,没有需要再采用IGBT这种双极型器件结构(导通电阻变低,则开关速度变慢) ,就可以实现低导通电阻、高耐压、快速开关等各优点兼备的器件。同时相比于Si级,碳化硅MOSFET拥有3倍多的宽禁带宽度,使其具有更高的结温(-55℃到150℃),满足阴毒环境下的耐高温工作环境。
如下电源模块DC-DC电路中使用软开关LLC拓扑。图2中,上图采用硅级开关管。由于只有650V等级的硅器件具有足够低的动态损耗,因此需要两个级联的LLC全桥来支持800V的直流链路电压。
如果使用SiCMOSFET,包含驱动芯片在内的开关数量可以减少一半(参见图2的下图,只需一个LLC全桥)。零部件数减少50%,使得需要的电路板空间缩小,功效也可获得优化。关于SiC MOSFET解决方案,每个导通状态只需打开两个开关位置,而在650V等级的解决方案中则需要打开27个开关位置。考虑到使用硅器件系统中系统功效现在通常可被优化至97%左右,因此在SiC MOSFET中,由于输出电容变小,使得导通损耗降低50%,且关断开关损耗也降低,因而可以实现超过1%的功效提升。
基于碳化硅的这些优势,将在终端应用方面显著减少物料单(BOM)身分,同时增加功率密度,大幅减少了控制操作,降低了总体庞大度,可广泛试用于充电桩,光伏逆变器等土地。
先导中凶袄托西电微电子学院开展SiC技术产业化工作,西电微电子学院是国内最早从事碳化硅技术研发的单位,差不多有近三十年的积累,专利储备数量国内排名第一,全球前八。先导中心致力于第三代半导体关键共性技术工程化研发,发扬西安電子科技大學国际领先的第三代半导体技术,为陕西创新驱动发展战略提供重要支撑。目前差不多成功研发出650V-3300V的碳化硅器件,其中多款产品填补了国内空白,同时瞄准行业痛点,开展了应用解决方案的研发,通过打通器件与应用的技术和产业链条,推动第三代半导体技术的产业化落地。